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Ciss和Coss和Crss,電容特性Ciss,Coss,Crss-KIA MOS管

信息來源:本站 日期:2024-09-03 

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Ciss和Coss和Crss,電容特性Ciss,Coss,Crss-KIA MOS管


MOSFET電氣特性Ciss,Crss,Coss

在MOSFET中,柵極由一層薄的氧化硅實(shí)現(xiàn)絕緣。因此,功率MOSFET在柵極-漏極、柵極-源極和漏極-源極之間具有電容,具體如圖所示。Ciss為輸入電容,Crss為反饋電容,Coss為輸出電容。電容會影響MOSFET的開關(guān)性能。

Ciss,Coss,Crss

輸入電容Ciss = Cgs + Cgd;

輸出電容Coss = Cds + Cgd;

反向傳輸電容Crss = Cgd


這三個電容幾乎不受溫度變化的影響,因此,驅(qū)動電壓、開關(guān)頻率會比較明顯地影響MOS管的開關(guān)特性,而溫度的影響卻比較小。


電容特性 (Ciss , Coss , Crss )

由于功率 mos 管的結(jié)構(gòu),會產(chǎn)生寄生電容(CGS、CGD、CDS)。這些寄生電容會影響開關(guān)特性。


輸入電容,Ciss

輸入電容 Ciss 影響延遲時間。當(dāng) Ciss 大時,延遲時間長,因?yàn)樵诠β?mos 管導(dǎo)通/關(guān)斷時必須對大量電荷進(jìn)行充電/放電。Ciss 越大,功率損耗越大。因此,Ciss 小的功率 mos 管是理想的。


C iss通過下式計算。

C iss = C GS+ C GD


輸出電容,Coss

輸出電容 Coss影響關(guān)斷特性。

當(dāng) Coss 較大時,漏源電壓 VDS 的電壓變化率 dv/dt 在功率 mos 管關(guān)斷時降低,從而降低了噪聲的影響,但增加了導(dǎo)通關(guān)閉下降時間t f。


Coss通過下式計算。

C oss = C DS + C GD


反向傳輸電容,Crss

反向傳輸電容,Crss 也稱為鏡像電容。

Crss 影響高頻特性。Crss 越大,越出現(xiàn)以下特征:

導(dǎo)通時漏源電壓 VDS 的下降時間較長(導(dǎo)通上升時間 t r較長)

關(guān)斷時漏源電壓 VDS 的上升時間較長(關(guān)斷下降時間 t f較長)

功率損耗大


反向傳輸電容 Crss 通過以下公式計算。

C rss = C GD


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